1. Tema 1. CONCEPTES GENERALS DE MICROSCÒPIA.
Unitats més utilitzades en microscòpia. Distància mínima de visió nítida, àngle mínim de visió nítida i distància mínima de resolució. Propietats de les lents. Poder de resolució, distància mínima de resolució, obertura numèrica i distància focal d'una lent. Augment total del microscopi. Camp, horitzontalitat de camp i profunditat de camp. Aberracions de les lents. Correcció de les aberracions.
2. Tema 2. MICROSCÒPIA ÒPTICA DE CAMP CLAR. Microscopi òptic convencional (MO): part mecànica i part òptica, sistema d'il.luminació i complements. Microscopi estereoscòpic. Microscopi invertit. Aplicacions de la microscòpia òptica convencional.
3. Tema 3. ALTRES MODALITATS DE MICROSCÒPIA ÒPTICA. Microscòpia de contrast de fases. Microscòpia de camp fosc. Microscòpia de polarització. Microscòpia de contrast interferencial de Nomarski. Microscòpia de fluorescència. Microscòpia confocal.
4. Tema 4. MÈTODES DE MESURA: MICROMETRIA. Mesures lineals. Recomptes. Mesures digitals.
5. Tema 5. MÈTODES DE PREPARACIÓ DE MOSTRES PER A MO. Preparacions "in vivo". Frotis i seccions. Fixació. Inclusió. Microtomia. Tècniques de coloració. Muntatge.
6. Tema 6. MICROSCÒPIA ELECTRÒNICA DE TRANSMISSIÓ. Fonament de la microscòpia electrònica. Elements d'un microscopi electrònic de transmissió (TEM). Complements.
7. Tema 7. MICROSCÒPIA ELECTRÒNICA DE RASTREIG. Principis bàsics de la microscòpia electrònica de rastreig. Elements d'un microscopi electrònic de rastreig (SEM). Sistema operatiu del SEM.
8. Tema 8. PROCESSAMENT DE MOSTRES PER A TEM. Contrastat positiu: fixació, deshidratació, imbibició i inclusió, piramidotomia i ultramicrotomia, contrastat. Contrastat negatiu: tipus de contrastants negatius.
9. Tema 9. PROCESSAMENT DE MOSTRES PER A SEM. Fixació. Deshidratació. Assecat. Muntatge. Metal·lització.
10. Tema 10. ALTRES MODALITATS DE MICROSCÒPIA ELECTRÒNICA. Microscòpia electrònica d'alta resolució (HRTEM,HRSEM), Microscòpia electrònica d'alt voltatge (HVEM). Microscòpia electrònica de voltatge intermedi (IVEM). Microscòpia electrònica de transmissió-rastreig (STEM). Microscòpia electrònica per a rastreig ambiental.
11. Les pràctiques consten de 10 sessions que s'estructuren de la forma següent:
12. Sessió I. Processament de mostres per a microscòpia òptica (MO) i per a microscòpia electrònica (ME).
13. Sessions II i III. Visita als Serveis Tècnics de Recerca de la Universitat de Girona (Secció de Microscòpia): MO de recerca (camp clar, MO de camp fosc, MO de contrast de fases, MO de contrast interferencial de Nomarski i MO de fluorescència). ME de transmissió (TEM) i ME de rastreig (SEM)
14. Sessió IV. Tinció de teixits animals amb la tinció d'Hematoxilina-Eosina i el mètode tricròmic de Mallory.
15. Sessió V. Tinció de teixits animals amb el mètode tricròmic de van Gieson i el mètode histoquímic de l'Orceïna.
16. Sessió VI. Tinció de teixits animals amb el mètode histoquímic de blau Alcià-PA-Schiff.
17. Sessió VII. Mesures d'estructures cel·lulars i tissulars al MO.
18. Sessions VIII i IX. Aplicació d'un mètode programa informàtic de simulació dels paràmetres de la MO.
19. Sessió X. Exposició de resultats.
Tan en primera com en segona convocatòria la qualificació final de l'assignatura resulta de l'avaluació dels continguts teòrics i dels continguts pràctics en la proporció següent: 60% continguts teòrics i 40% continguts pràctics.
Per a l’avaluació de la part teòrica es farà un examen amb preguntes tipus test. Pel que fa a les pràctiques, que valen un 40%, s’avaluen mitjançant un examen tipus test (que val el 20%), l’ACME (10%) i l’exposició de pràctiques (10%). Als repetidors us aconsellem que les torneu a repetir, però si no teniu l’opció de venir només els dies de les sessions de tincions i fer l’exposició, de manera que pugueu tenir la nota de l’exposició.
Pel que fa als tests de teoria i de pràctiques, per a cada pregunta hi haurà quatre respostes possibles de les quals només una serà correcta. Per a la correcció s'aplicarà la fórmula següent: nombre de repostes correctes - 1/4 del nombre de respostes incorrectes /10.
Criteris específics de la nota «No Presentat»:
S'obtindrà la qualificació de NO PRESENTAT en el cas de no realitzar l'examen final en primera ni en segona convocatòria.